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电子元器件详细资料 » IC[27974] » SN74BCT8373ANT
型号:SN74BCT8373ANT类别:逻辑 - 专用逻辑制造商:Texas Instruments
封装:24-DIP(0.300",7.62mm)描述:IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

详细参数

类别逻辑 - 专用逻辑
描述IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
系列74BCT
制造商Texas Instruments
逻辑类型扫描测试设备,带 D 型锁存器
电源电压4.5 V ~ 5.5 V
位数8
工作温度0°C ~ 70°C
安装类型通孔
封装/外壳24-DIP(0.300",7.62mm)
供应商器件封装24-PDIP
包装管件

供应商

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