型号:SN74BCT8373ANT | 类别:逻辑 - 专用逻辑 | 制造商:Texas Instruments |
封装:24-DIP(0.300",7.62mm) | 描述:IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP |
详细参数
类别 | 逻辑 - 专用逻辑 |
---|---|
描述 | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP |
系列 | 74BCT |
制造商 | Texas Instruments |
逻辑类型 | 扫描测试设备,带 D 型锁存器 |
电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
位数 | 8 |
工作温度 | 0°C ~ 70°C |
安装类型 | 通孔 |
封装/外壳 | 24-DIP(0.300",7.62mm) |
供应商器件封装 | 24-PDIP |
包装 | 管件 |
供应商
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